Det er Pack's omfattende testsystem, der anvendes til de grundlæggende tests og beskyttelseskarakteristika af slutprodukter/halvfabrikata på mobiltelefonen og det digitale produkt Li-ion batteripakke produktionslinjer og beskyttelses IC'erne (understøtter I2C, SMBus, HDQ kommunikationsprotokoller ).
Testsystemet består hovedsageligt af grundlæggende præstationstest og beskyttelsespræstationstest.Den grundlæggende præstationstest inkluderer åben kredsløbsspændingstest, belastningsspændingstest, dynamisk belastningstest, batteri intern modstandstest, termisk modstandstest, ID-modstandstest, normal ladespændingstest, normal afladningsspændingstest, kapacitanstest, lækstrømstest;beskyttelsesydelsestesten omfatter opladningsoverstrømsbeskyttelsestest: opladningsoverstrømsbeskyttelsesfunktion, forsinkelsestidsbeskyttelse og gendannelsesfunktionstest;udledningsoverstrømsbeskyttelsestest: udledningsoverstrømsbeskyttelsesfunktion, forsinkelsestidsbeskyttelse og gendannelsesfunktionstest;kortslutningsbeskyttelsestest.
Testsystemet har følgende funktioner: Uafhængigt enkelt-kanals modulært design og datarapportfunktion, som ikke kun kan forbedre testhastigheden for hver PACK, men også er nem at vedligeholde;mens du tester beskyttelsestilstandene for en PACK, skal testeren skiftes til den tilsvarende systemtilstand.I stedet for at bruge et relæ, anvender testeren MOS kontaktløs switch med højt strømforbrug for at øge testerens pålidelighed.Og testdataene kan uploades til serversiden, som er nem at kontrollere, høj i sikkerhed og ikke let at miste.Testsystemet leverer ikke kun testresultaterne af "Local database" storage testsystem, men også "server remote storage" tilstanden.Alle testresultaterne i databasen kan eksporteres, hvilket er nemt at håndtere.Testresultaternes "datastatistiske funktion" kan bruges til at analysere "ikke-performerende rate for hvert testprojekt" og "test brutto" for hvert PCM-tilfælde.
Modulært design: Uafhængigt enkelt-kanals modulært design for nem vedligeholdelse | Høj nøjagtighed: den højeste nøjagtighed af spændingsoutput ±(0,01RD+0,01%FS) |
Hurtig test: med den hurtigste testhastighed på 1,5 sek. fremskyndes produktionscyklussen markant | Høj pålidelighed: MOS-kontaktløs switch med højt strømforbrug for at forbedre testerens pålidelighed |
Kompakt størrelse: lille nok og nem at bære rundt på | —— |
Model | BAT-NEPDQ-01B-V016 | |
Parameter | Rækkevidde | Nøjagtighed |
Ladespændingsudgang | 0,1~5V | ±(0,01%RD +0,01%FS) |
5~10V | ±(0,01%RD+0,02%FS) | |
Ladespændingsmåling | 0,1~5V | ±(0,01%6R.D. +0,01%FS) |
5~10V | ±(0,01%RD +0,01%FS) | |
Ladestrøm output | 0,1~2A | ±(0,01%RD+0,5mA) |
2-20A | ±(0,01%RD+0,02%FS) | |
Måling af ladestrøm | 0,1~2A | ±(0,01 % RD+0,5mA) |
2-20A | ±(0,02 % RD+0,5mA) | |
PACK spændingsmåling | 0,1~10V | ±(0,02% RD +0,5mV) |
Afladningsspændingsudgang | 0,1~5V | ±(0,01%RD +0,01%FS) |
0,1~10V | ±(0,01%RD+0,02%FS) | |
Afladningsspændingsmåling | 0,1~5V | ±(0,01%RD +0,01%FS) |
0,1-10V | ±(0,01%RD +0,01%FS) | |
Aflade strømudgang | 0,1~2A | ±(0,01 % RD+0,5mA) |
2-30A | ±(0,02 % RD+0,02 %FS) | |
Afladningsstrømmåling | 0,1~-2A | ±(0,01 % RD+0,5mA) |
2-30A | ±(0,02 % RD+0,5mA) | |
Lækstrømsmåling | 0,1-20uA | ±(0,01 % RD+0,1uA) |
20-1000uA | ±(0,01%RD +0,05%FS) |